Badania SEM-EDX

Oferujemy badania w zakresie:

Nasza aparatura badawcza:

Mikroskop JEOL JSM-7600F jest wysokorozdzielczym instrumentem najnowszej generacji, sterowanym cyfrowo i wyposażonym w działo elektronowe z emisją polową (typu Schottky), umożliwiającym badanie morfologii powierzchni ciał stałych w skali mikro i nanometrowej. Mikroskop wyposażony jest w 2 detektory elektronów wtórnych oraz 2 detektory elektronów wstecznie rozproszonych (klasyczny detektor półprzewodnikowy BSE oraz detektor elektronów wstecznie rozproszonych pod małym kątem - LABE (Low Angle Backscattered Electron), dzięki którym można obrazować kontrast atomowy i różnice gęstości materiału z wysoką czułością. Z mikroskopem zintegrowany jest sprzętowo i programowo spektrometr rentgenowski z dyspersją energii (EDX), który umożliwia szybką analizę składu pierwiastkowego w ciałach stałych.

Mikroskop wykorzystywany jest do badań morfologii i topografii nanostrukturalnych warstw węglowych z domieszką nanokrystalitów metali przejściowych oraz nanorurek węglowych oraz badań nowych materiałów oraz rezultatów modyfikacji ich powierzchni na poziomie nano. Mikroskop wykorzystywany jest również do badania połączeń lutowanych, oceny jakości lutów i związków międzymetalicznych w lutach oraz ścieżek w obwodach drukowanych. Dzięki spektrometrowi rentgenowskiemu z dyspersją energii (EDX) możliwe jest szybkie wykonywanie analiz jakościowych i ilościowych.

Podstawowe parametry techniczne mikroskopu:

Podstawowe parametry spektrometru EDX:

 

Obrazy SEM nanostrukturalnych warstw węglowych


 

 

 Powierzchnia stopu K-Fe-Se-O, widmo EDX oraz mapy pierwiastków

 

 

Strona korzysta z plików cookies w celach statystycznych zgodnie z Polityką Prywatności. Możesz samodzielnie określić warunki przechowywania lub dostępu plików cookies w Twojej przeglądarce. Zamknij